Описание
Микроскоп ПЭМ-125К позволяет исследовать микроструктуру и фазовый состав объектов в нанотехнологиях, материаловедении, кристаллографии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях, наблюдать и фотографировать изображение объектов в широком диапазоне увеличений, получать дифракционные картины, исследовать объекты при их наклоне и вращении с помощью гониометрического устройства.
Опции
- система энергодисперсионного рентгеновского микроанализа;
- комплект дифракционных приставок для исследования объектов в режиме дифракции высокого разрешения, в том числе с нагревом объекта до 800 °C и охлаждением до -120 °C;
- держатель объектов с двойным наклоном;
- держатель с вращением объектов;
- системы анализа изображения;
- автономная система водяного охлаждения.
| Параметры | Тип полюсного наконечника | ||
| БН | ВР | ВК | |
Разрешающая способность, nm
|
0,2 0,37 |
0,14 0,35 |
0,34 0,45 |
| Диапазон электронно-оптических увеличений, × | 50 … 1000000 31 ступень |
50 … 1300000 31 ступень |
50 … 800000 31 ступень |
| Максимальный угол наклона объекта гониометром, ° | ±60 | ±15 | ±15 |
| Ускоряющее напряжение, kV со ступенями регулировки, kV |
25 … 125 0,05; 1; 5 |
||
| Длина дифракционной камеры, mm | 100 … 5000 11 ступеней |
80 … 3500 11 ступеней |
120 … 6000 11 ступеней |
| Угол наклона электронного пучка на объекте, ° | 4 | ||
| Напряжение питания (3 фазы), V частота, Hz |
220 50/60 |
||
| Потребляемая мощность, kVA, не более | 5,5 | ||
| Габаритные размеры, mm, не более |
Колонна со стендом |
Шкаф питания | Высоковольтный источник |
|
1220 2100 2000 |
610 400 840 |
430 610 900 |
| Общая масса микроскопа ПЭМ-125К, kg, не более | 1700 | ||
Преимущества
- помехоустойчивая система управления прибором с использованием промышленного компьютера;
- высокое разрешение по кристаллической решетке и по точкам;
- высокое качество электронно-микроскопических изображений;
- наличие трех режимов работы: большой угол наклона объекта (БН), высокое разрешение (ВР), высокий контраст для медико-биологических объектов (ВК);
- высокая виброустойчивость;
- безмасляная откачка колонны;
- 4-х линзовый проекционный блок с компенсацией поворота изображения и микродифракционной картины;
- наличие вобблеров юстировки микроскопа и фокусировки изображения;
- полностью автоматизированная фоторегистрация электронно-микроскопических изображений на фотопленку размером 60×90 mm;
- отображение информации о состоянии прибора на дисплее компьютера.
Отзывы
Отзывов пока нет.